红外光谱仪-亚微米级表面检测

Spot View®亚微米级表面检测

美国REMSPEC的Spot View®产品获得了美国R&D 100 设计大奖。Spot View®是一种灵敏度非常高的表面分析技术，检测限可以达到0.3 μg/cm2。Spot View®包含配备斯特林制冷器的MCT检测器，整个系统处于密闭状态。Spot View®配备有3米长的光纤电缆，从而可以在很多场所自如使用。操作软件系统符合美国药典 21 CFR Part 11要求。诸如制药行业的反应釜或者计算机的硬盘的表面分析，可以选用手持式的检测头，可以在不受清洗溶剂的干扰下，准确测试残留的APIs活性组分的含量。

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